埃登威自动化系统设备（上海）有限公司

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日本KETT LZ-200J两用膜厚计图片

2025-03-15 11:27:1071

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日本KETTLZ-200J两用膜厚计采用电磁和涡流两种测量模式，精度达2%，测量1500μm内的磁性金属底材涂层或800μm内的非磁性金属上涂层。

图片来源：

/chanpin/7298621.html

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